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Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Impact of on-Silicon De-Embedding Test Structures and RF Probes Design in the Sub-THz Range

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Marina DENG  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01985501

Soumis le : vendredi 18 janvier 2019-09:46:33

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

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Dates et versions

hal-01985501 , version 1 (18-01-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01985501 , version 1

Citer

Chandan Yadav, Marina Deng, Sebastien Fregonese, Magali de Matos, Bernard Plano, et al.. Impact of on-Silicon De-Embedding Test Structures and RF Probes Design in the Sub-THz Range. 2018 48th European Microwave Conference (EuMC), Sep 2018, Madrid, Spain. ⟨hal-01985501⟩

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