Gate Oxide Electrical Stability of p-type Diamond MOS Capacitors
O. Loto
(1)
,
M. Florentin
(1)
,
C. Masante
(1)
,
N. Donato
(2)
,
M. Hicks
(3)
,
C. Pakpour-Tabrizi
(3)
,
R. Jackman
(3)
,
V. Zuerbig
(4)
,
P. Godignon
(5)
,
D. Eon
(1)
,
Julien Pernot
(1)
,
F. Udrea
(6)
,
E. Gheeraert
(1)
Julien Pernot
- Fonction : Auteur
- PersonId : 736749
- IdHAL : julien-pernot
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E. Gheeraert
- Fonction : Auteur
- PersonId : 3851
- IdHAL : etienne-gheeraert
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- IdRef : 075094541