A Blind Quality Measure for Industrial 2D Matrix Symbols Using Shallow Convolutional Neural Network

Type de document :
Communication dans un congrès
25th IEEE International Conference on Image Processing (ICIP), 2018, Athenes, Greece
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01970892
Contributeur : Patrick Le Callet <>
Soumis le : dimanche 6 janvier 2019 - 11:50:20
Dernière modification le : lundi 7 janvier 2019 - 11:06:23

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  • HAL Id : hal-01970892, version 1

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Zhaohui Che, Guangtao Zhai, Liu Jing, Ke Gu, Patrick Le Callet, et al.. A Blind Quality Measure for Industrial 2D Matrix Symbols Using Shallow Convolutional Neural Network. 25th IEEE International Conference on Image Processing (ICIP), 2018, Athenes, Greece. 〈hal-01970892〉

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