Determination of the cationic distribution in oxidic thin films by resonant X-ray diffraction: the magnetoelectric compound Ga 2− x Fe x O 3
Christophe Lefevre
(1)
,
Alexandre Thomasson
(1)
,
François Roulland
(1)
,
Vincent Favre-Nicolin
(2)
,
Yves Joly
(3)
,
Yusuke Wakabayashi
(4)
,
Gilles Versini
(1)
,
Sophie Barré
(5)
,
Cédric Leuvrey
(6)
,
Anna Demchenko
(1)
,
Nathalie Boudet
(7)
,
Nathalie Viart
(1)
1
IPCMS -
Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg
2 ESRF - European Synchrotron Radiation Facility
3 NEEL - SIN - Surfaces, Interfaces et Nanostructures
4 Graduate School of Engineering, Osaka University
5 LHEEA - Laboratoire de recherche en Hydrodynamique, Énergétique et Environnement Atmosphérique
6 IPCMS - Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg
7 NEEL - CRG - CRG & Grands instruments
2 ESRF - European Synchrotron Radiation Facility
3 NEEL - SIN - Surfaces, Interfaces et Nanostructures
4 Graduate School of Engineering, Osaka University
5 LHEEA - Laboratoire de recherche en Hydrodynamique, Énergétique et Environnement Atmosphérique
6 IPCMS - Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg
7 NEEL - CRG - CRG & Grands instruments
Christophe Lefevre
- Fonction : Auteur
- PersonId : 738903
- IdHAL : christophe-lefevre
- IdRef : 080788920
Yves Joly
- Fonction : Auteur
- PersonId : 5459
- IdHAL : joly-yves
- ORCID : 0000-0002-1872-6112
- IdRef : 115258655
Nathalie Viart
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1163132
- IdHAL : nathalie-viart
- ORCID : 0000-0002-7851-017X
- IdRef : 138996865