Chapitre D'ouvrage
Année : 2016
Etienne Talbot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01954245
Soumis le : jeudi 13 décembre 2018-15:19:56
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01954245 , version 1
- DOI : 10.1016/B978-0-12-804647-0.00003-6
Citer
Frédéric Danoix, F. Vurpillot. Basics of Field Ion Microscopy. Atom Probe Tomography, Elsevier, pp.73-95, 2016, 978-0-12-804647-0. ⟨10.1016/B978-0-12-804647-0.00003-6⟩. ⟨hal-01954245⟩
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