Conducted EMI prediction using different levels of MOSFET models in a multi-physics optimization context

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European Journal of Electrical Engineering, Lavoisier, 2016, 18 (5-6), pp.425 - 439. 〈10.3166/ejee.18.425-439〉
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Contributeur : Mohamed Bensetti <>
Soumis le : mercredi 28 novembre 2018 - 11:37:15
Dernière modification le : lundi 3 décembre 2018 - 01:32:47

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Mohamed Toure, Françoise Paladian, Mohamed Bensetti, Florent Robert, Laurent Dufour. Conducted EMI prediction using different levels of MOSFET models in a multi-physics optimization context. European Journal of Electrical Engineering, Lavoisier, 2016, 18 (5-6), pp.425 - 439. 〈10.3166/ejee.18.425-439〉. 〈hal-01937797〉

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