Reliability Study of High-Power Mechatronic Components by Spectral Photoemission Microscopy

Niemat Moultif; Alexis Divay; Eric Joubert; O. Latry

doi:10.1016/b978-1-78548-261-8.50008-5

Chapitre D'ouvrage Année : 2017

Reliability Study of High-Power Mechatronic Components by Spectral Photoemission Microscopy

(1) , (1) , (1) , (1)

1

Niemat Moultif

Fonction : Auteur
PersonId : 750874
IdHAL : moultif
ORCID : 0000-0002-9765-2106
IdRef : 223732303

Groupe de physique des matériaux

Alexis Divay

Fonction : Auteur

Groupe de physique des matériaux

Eric Joubert

Fonction : Auteur
PersonId : 175065
IdHAL : eric-joubert
ORCID : 0000-0001-6585-4603
IdRef : 083021450

Groupe de physique des matériaux

CV

O. Latry

Fonction : Auteur
PersonId : 175169
IdHAL : olivierl
ORCID : 0000-0002-2121-8864
IdRef : 151805482

Groupe de physique des matériaux

CV

Domaines

Physique [physics] Optique / photonique Electronique

Etienne Talbot : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01927247

Soumis le : lundi 19 novembre 2018-17:00:10

Dernière modification le : mercredi 3 avril 2024-10:20:12

Dates et versions

hal-01927247 , version 1 (19-11-2018)

Identifiants

HAL Id : hal-01927247 , version 1
DOI : 10.1016/b978-1-78548-261-8.50008-5

Citer

Niemat Moultif, Alexis Divay, Eric Joubert, O. Latry. Reliability Study of High-Power Mechatronic Components by Spectral Photoemission Microscopy. Reliability of High-Power Mechatronic Systems 2, Elsevier, pp.241--271, 2017, ⟨10.1016/b978-1-78548-261-8.50008-5⟩. ⟨hal-01927247⟩

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