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Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Réflectomètre THz pour la caractérisation de matériaux

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01919792 , version 1 (12-11-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01919792 , version 1

Citer

A. Bassli, A. Pénarier, S. Blin, P. Nouvel. Réflectomètre THz pour la caractérisation de matériaux. 15ème Journées Nano, Micro et Optoélectronique, 2016, Les Issambres, France. ⟨hal-01919792⟩
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