Communication Dans Un Congrès
Année : 2016
Guillaume Graton : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01893092
Soumis le : jeudi 11 octobre 2018-09:56:52
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Citer
M. Jebri, G. Graton, M. Adel, M. Ouladsine, J. Pinaton. Virtual metrology based on relevant feature extraction and just-in-time learning approach. 2016 27th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), May 2016, Saratoga Springs, France. ⟨10.1109/ASMC.2016.7491086⟩. ⟨hal-01893092⟩
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