Testbed and Experimental Analysis of Automatic Modulation Classifier for Non-uniformly Sampled Signal

Himani Joshi; Sumit J. Darak; Yves Louet

doi:10.1109/ants.2016.7947828

Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Testbed and Experimental Analysis of Automatic Modulation Classifier for Non-uniformly Sampled Signal

(1) , (1) , (2, 3)

1
2
3

Himani Joshi

Fonction : Auteur
PersonId : 1035719

IIITD-Delhi

Sumit J. Darak

Fonction : Auteur
PersonId : 1000086

IIITD-Delhi

Yves Louet

Fonction : Auteur
PersonId : 11096
IdHAL : yves-louet
IdRef : 124402186

Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique

Signal, Communication et Electronique Embarquée

Domaines

Traitement du signal et de l'image [eess.SP]

Yves Louet : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01859176

Soumis le : mardi 21 août 2018-17:16:40

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:08

Dates et versions

hal-01859176 , version 1 (21-08-2018)

Identifiants

HAL Id : hal-01859176 , version 1
DOI : 10.1109/ants.2016.7947828

Citer

Himani Joshi, Sumit J. Darak, Yves Louet. Testbed and Experimental Analysis of Automatic Modulation Classifier for Non-uniformly Sampled Signal. IEEE International Conference on Advanced Networks and Telecommuncations Systems (ANTS), Nov 2016, Bangalore, India. ⟨10.1109/ants.2016.7947828⟩. ⟨hal-01859176⟩

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