New method for the determination of the correction function of a hemisperical electron analyser based on elastic electron images - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena Année : 2014

New method for the determination of the correction function of a hemisperical electron analyser based on elastic electron images

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Robert-Goumet  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01827595

Soumis le : lundi 2 juillet 2018-15:05:16

Dernière modification le : lundi 11 décembre 2023-13:23:37

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01827595 , version 1 (02-07-2018)

Identifiants

Citer

Christine Robert-Goumet, Mohamed Aymen Mahjoub, Guillaume Monier, Luc Bideux, Bernard Gruzza. New method for the determination of the correction function of a hemisperical electron analyser based on elastic electron images. Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 2014, 197, pp.80 - 87. ⟨10.1016/j.elspec.2014.09.010⟩. ⟨hal-01827595⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

PRES_CLERMONT CNRS INSTITUT_PASCAL
14 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More