Neutron-Induced SEU in SRAMs: Simulations With n-Si and n-O Interactions

D. Lambert (1) , J. Baggio (2) , G. Hubert (3) , V. Ferlet-Cavrois , O. Flament , Frédéric Saigné (1) , Frédéric Wrobel (4) , H. Duarte , J. Boch (1) , B. Sagnes (1) , N. Buard (5) , T. Carriere (5)

1 CEM2 - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier
2 DCRE CEA - Département de Conception et Réalisation des Experimentations, CEA-DIF
3 LEESU - Laboratoire Eau, Environnement et Systèmes Urbains
4 LPES - Laboratoire de Physique Electronique des Solides
5 EADS, Corporate Research Center

Domaines: Electronique

D. Lambert, J. Baggio, G. Hubert, V. Ferlet-Cavrois, O. Flament, et al.. Neutron-Induced SEU in SRAMs: Simulations With n-Si and n-O Interactions. 42th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference, 2005, Seattle, United States. ⟨hal-01807126⟩