Communication Dans Un Congrès
Année : 2018
Isabelle Labau : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01767810
Soumis le : lundi 16 avril 2018-15:42:06
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:15
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01767810 , version 1
Citer
Alain Claverie, Victor Boureau, David N Cooper. Strain mapping of advanced electronic devices by TEM based methods.. International Conference on Microscopy and 39th Annual meeting of EMSI, Jul 2018, Bhubaneswar, India. ⟨hal-01767810⟩
Collections
108
Consultations
0
Téléchargements