Electronic structure and stability of the SiO 2+ dications produced in tomographic atom probe experiments

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Journal of Chemical Physics, American Institute of Physics, 2017, 147 (16), 〈10.1063/1.5001113〉
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Contributeur : Etienne Talbot <>
Soumis le : vendredi 13 avril 2018 - 11:46:39
Dernière modification le : samedi 27 octobre 2018 - 01:19:39

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D. Zanuttini, I. Blum, L. Rigutti, F. Vurpillot, J. Douady, et al.. Electronic structure and stability of the SiO 2+ dications produced in tomographic atom probe experiments. Journal of Chemical Physics, American Institute of Physics, 2017, 147 (16), 〈10.1063/1.5001113〉. 〈hal-01766021〉

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