Fault isolation by test scheduling for embedded systems using a probabilistic approach - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Intelligent Manufacturing Année : 2018

Fault isolation by test scheduling for embedded systems using a probabilistic approach

Daoud Ait-Kadi
  • Fonction : Auteur
Université Laval [Québec]
Zineb Simeu-Abazi
Gestion et Conduite des Systèmes de Production
Ahmed Arous
  • Fonction : Auteur
Université Laval [Québec]

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Zineb Simeu-Abazi  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01724054

Soumis le : mardi 6 mars 2018-09:01:42

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Dates et versions

hal-01724054 , version 1 (06-03-2018)

Identifiants

Citer

Daoud Ait-Kadi, Zineb Simeu-Abazi, Ahmed Arous. Fault isolation by test scheduling for embedded systems using a probabilistic approach. Journal of Intelligent Manufacturing, 2018, 29 (3), pp.641 - 649. ⟨10.1007/s10845-015-1088-7⟩. ⟨hal-01724054⟩

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