Static and low frequency noise characterization of n-channel 16 nm UTBOX devices - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Static and low frequency noise characterization of n-channel 16 nm UTBOX devices

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-01712397

Soumis le : lundi 19 février 2018-14:36:10

Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04

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Dates et versions

hal-01712397 , version 1 (19-02-2018)

Identifiants

Citer

B. Nafaa, O. Touayar, B. Cretu, E. Simoen. Static and low frequency noise characterization of n-channel 16 nm UTBOX devices. 2016 7th International Conference on Sciences of Electronics, Technologies of Information and Telecommunications (SETIT), Dec 2016, Hammamet, France. ⟨10.1109/SETIT.2016.7939833⟩. ⟨hal-01712397⟩

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