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Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Assessing Ferroelectricity at the Nanoscale Using Techniques Derived from Atomic Force Microscopy

Simon Martin
  • Fonction : Auteur
Nicolas Baboux
INL - Dispositifs Electroniques
David Albertini
INL - Plateforme Technologique Nanolyon
Brice Gautier
INL - Dispositifs Electroniques
CV

Résumé

no abstract

Domaines

Physique [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique Optique [physics.optics] Optique / photonique Matériaux

Laboratoire INL UMR5270 Inl  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01701485

Soumis le : lundi 5 février 2018-18:15:45

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:06

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01701485 , version 1 (05-02-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01701485 , version 1

Citer

Simon Martin, Nicolas Baboux, David Albertini, Brice Gautier. Assessing Ferroelectricity at the Nanoscale Using Techniques Derived from Atomic Force Microscopy. 3rd Intl. Symp. Surfaces and Interfaces of Sustainable, Advanced Materials (SISAM), Jan 2017, Cancun, Mexico. ⟨hal-01701485⟩

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