Growth, Microstructural Characterization and Nanoscale Piezoelectric/Ferroelectric Properties in Lead-Free Ln_2Ti_2O_7 (Ln = Lanthanides) Thin Films
Résumé
no abstract
Communication Dans Un Congrès
Année : 2013
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https://hal.science/hal-01691032
Soumis le : mardi 23 janvier 2018-15:46:32
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:15
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01691032 , version 1
Citer
R. Desfeux, A. Ferri, E. Bruyer, Adlane Sayede, W. Prellier, et al.. Growth, Microstructural Characterization and Nanoscale Piezoelectric/Ferroelectric Properties in Lead-Free Ln_2Ti_2O_7 (Ln = Lanthanides) Thin Films. 2nd Annual World Congress of Advanced Materials-2013 (WCAM-2013), 2013, Suzhou, China. ⟨hal-01691032⟩
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