Thickness dependence of the nanoscale piezoelectric properties measured by piezoresponse force microscopy on (111)-oriented PLZT 10/40/60 thin films
Résumé
no abstract
Article Dans Une Revue
Surface Science : A Journal Devoted to the Physics and Chemistry of Interfaces
Année : 2008
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https://hal.science/hal-01681478
Soumis le : jeudi 11 janvier 2018-16:45:47
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:15
Citer
A. Ferri, S. Saitzek, A. da Costa, Rachel Desfeux, G. Leclerc, et al.. Thickness dependence of the nanoscale piezoelectric properties measured by piezoresponse force microscopy on (111)-oriented PLZT 10/40/60 thin films. Surface Science : A Journal Devoted to the Physics and Chemistry of Interfaces, 2008, 602 (11), pp.1987-1992. ⟨10.1016/j.susc.2008.04.001⟩. ⟨hal-01681478⟩
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