Reliability-Aware Circuit Design Methodology for Beyond-5G Communication Systems

Type de document :
Article dans une revue
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017, 17 (3), pp.490 - 506. 〈10.1109/TDMR.2017.2710303〉
Liste complète des métadonnées

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01670929
Contributeur : François Marc <>
Soumis le : jeudi 21 décembre 2017 - 16:39:24
Dernière modification le : jeudi 18 octobre 2018 - 01:25:13

Identifiants

Citation

Chhandak Mukherjee, Bertrand Ardouin, Jean-Yves Dupuy, Virginie Nodjiadjim, Muriel Riet, et al.. Reliability-Aware Circuit Design Methodology for Beyond-5G Communication Systems. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017, 17 (3), pp.490 - 506. 〈10.1109/TDMR.2017.2710303〉. 〈hal-01670929〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

85