Ionization Profile Monitor Simulations - Status and Future Plans - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Ionization Profile Monitor Simulations - Status and Future Plans

Mariusz Sapinski
  • Fonction : Auteur
Bernd Dehning
  • Fonction : Auteur
Peter Forck
  • Fonction : Auteur
Tino Giacomini
  • Fonction : Auteur
Kenichirou Satou
  • Fonction : Auteur
Rahul Singh
  • Fonction : Auteur
James Storey
  • Fonction : Auteur
Cyrille Thomas
  • Fonction : Auteur
Randy Thurman-Keup
  • Fonction : Auteur
Serban Udrea
  • Fonction : Auteur
Dominik Vilsmeier
  • Fonction : Auteur
Christopher Wilcox
  • Fonction : Auteur
Robert Williamson
  • Fonction : Auteur

Résumé

Nonuniformities of the extraction fields, the velocity distribution of electrons from ionization processes and strong bunch fields are just a few of the effects affecting Ionization Profile Monitor measurements and operation. Careful analysis of these phenomena require specialized simulation programs. A handful of such codes have been written independently by various researchers over the recent years, showing an important demand for this type of study. In this paper we describe the available codes and discuss various approaches to Ionization Profile Monitor simulations. We propose benchmark conditions to compare these codes among each other and we collect data from various devices to benchmark codes against the measurements. Finally we present a community effort with a goal to discuss the codes, exchange simulation results and to develop and maintain a new, common codebase.
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01669668 , version 1 (20-12-2017)

Identifiants

Citer

Mariusz Sapinski, Francesca Belloni, Bernd Dehning, Peter Forck, Tino Giacomini, et al.. Ionization Profile Monitor Simulations - Status and Future Plans. 5th International Beam Instrumentation Conference, Sep 2016, Barcelona, Spain. pp.TUPG71, ⟨10.18429/JACoW-IBIC2016-TUPG71⟩. ⟨hal-01669668⟩
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