Three‐dimensional grain mapping by x‐ray diffraction contrast tomography and the use of Friedel pairs in diffraction data analysis
Résumé
no abstract
Jean-Yves Buffiere : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01668809
Soumis le : mercredi 20 décembre 2017-12:06:35
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:06