Proceedings of the 28th European Symposium on the reliability of electron devices, failure physics and analysis

Nathalie Labat (1) , François Marc (1) , Helene Frémont (1) , Marise Bafleur (2)

1 IMS - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
2 LAAS-ESE - Équipe Énergie et Systèmes Embarqués

Domaines: Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Nathalie Labat, François Marc, Helene Frémont, Marise Bafleur. Proceedings of the 28th European Symposium on the reliability of electron devices, failure physics and analysis. Microelectronics Reliability, 2017, 76-77, pp.1 - 5. ⟨10.1016/j.microrel.2017.08.002⟩. ⟨hal-01660958⟩