Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2017
Hélène Fremont : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01660890
Soumis le : lundi 11 décembre 2017-14:56:00
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01660890 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2017.07.053
Citer
S. Pin, H. Fremont, A. Guédon-Gracia. Combined creep characterisation from single lap shear tests and 3D implementation for fatigue simulations. Microelectronics Reliability, 2017, 76-77, pp.368 - 372. ⟨10.1016/j.microrel.2017.07.053⟩. ⟨hal-01660890⟩
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