Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2017
Tristan Dubois : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01659294
Soumis le : vendredi 8 décembre 2017-11:45:01
Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01659294 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2017.07.030
Citer
S. Hairoud-Airieau, G. Duchamp, Tristan Dubois, J.-Y. Delétage, A. Durier, et al.. Effects of ageing on the conducted immunity of a voltage reference: Experimental study and modelling approach. Microelectronics Reliability, 2017, 76-77, pp.674 - 679. ⟨10.1016/j.microrel.2017.07.030⟩. ⟨hal-01659294⟩
Collections
44
Consultations
0
Téléchargements