Fiabilité des composants enfouis dans un circuit électronique dans le secteur de l’automobile

Document type :
Conference papers
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Contributor : Isabelle Bord <>
Submitted on : Monday, December 4, 2017 - 5:29:36 PM
Last modification on : Thursday, January 11, 2018 - 6:21:09 AM

Identifiers

  • HAL Id : hal-01655291, version 1

Citation

Mickaël Balmont, Isabelle Bord Majek, Yves Ousten. Fiabilité des composants enfouis dans un circuit électronique dans le secteur de l’automobile . XXèmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM), Nov 2017, Strasbourg, France. pp.4.3. ⟨hal-01655291⟩

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