Influence d’irradiations neutroniques sur les pièges électriques induits par des stress électriques dans des HEMTs AlInN/GaN

Sébastien Petitdidier , Yannick Guhel (1) , Jean Lionel Trolet (2) , P. Mary (2) , Christophe Gaquière (3) , B. Boudart (1)

1 Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
2 EAMEA - Ecole des applications militaires de l'énergie atomique
3 IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]; Electronique

Sébastien Petitdidier, Yannick Guhel, Jean Lionel Trolet, P. Mary, Christophe Gaquière, et al.. Influence d’irradiations neutroniques sur les pièges électriques induits par des stress électriques dans des HEMTs AlInN/GaN. 20es Journées Nationales Microondes, 2017, Saint Malo, France. ⟨hal-01652201⟩