Innovative submicron thermal characterization method for AlGaN/GaN power HEMTs with hyperspectral thermoreflectance imaging - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Innovative submicron thermal characterization method for AlGaN/GaN power HEMTs with hyperspectral thermoreflectance imaging

Guillaume Brocero
  • Fonction : Auteur
Thales Air Systems
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
D Kendig
  • Fonction : Auteur
Ali Shakouri
  • Fonction : Auteur
Yannick Guhel
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
Philippe Eudeline
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 842498
Thales Air Systems
Jean Pierre Sipma
  • Fonction : Auteur
Thales Air Systems
B. Boudart
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Electronique

Bertrand BOUDART  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01652197

Soumis le : jeudi 30 novembre 2017-09:08:53

Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01652197 , version 1 (30-11-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01652197 , version 1

Citer

Guillaume Brocero, D Kendig, Ali Shakouri, Yannick Guhel, Philippe Eudeline, et al.. Innovative submicron thermal characterization method for AlGaN/GaN power HEMTs with hyperspectral thermoreflectance imaging. Compound Semiconductor IC Symposium (CSICS), 2017, Miami, United States. ⟨hal-01652197⟩

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