High frequency and noise performance of GFETs
W. Wei
(1)
,
D. Fadil
(1)
,
Emiliano Pallecchi
(1)
,
Gilles Dambrine
(1, 2, 3)
,
Henri Happy
(1, 4)
,
Marina Deng
(5)
,
S. Fregonese
(5)
,
T. Zimmer
(5)
1
IEMN -
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
2 ANODE - IEMN - Advanced NanOmeter DEvices - IEMN
3 CSAM - IEMN - Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN
4 CARBON - IEMN - Carbon - IEMN
5 IMS - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
2 ANODE - IEMN - Advanced NanOmeter DEvices - IEMN
3 CSAM - IEMN - Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN
4 CARBON - IEMN - Carbon - IEMN
5 IMS - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Emiliano Pallecchi
- Fonction : Auteur
- PersonId : 746791
- IdHAL : emiliano-pallecchi
- ORCID : 0000-0002-8682-7935
- IdRef : 192303139
Henri Happy
- Fonction : Auteur
- PersonId : 748086
- IdHAL : henri-happy
- ORCID : 0000-0003-2065-8080
- IdRef : 103891455
Marina Deng
- Fonction : Auteur
- PersonId : 176124
- IdHAL : marina-deng
- ORCID : 0000-0001-7964-1000
- IdRef : 184622409
S. Fregonese
- Fonction : Auteur
- PersonId : 16107
- IdHAL : sebastien-fregonese
- ORCID : 0000-0002-1829-2633
- IdRef : 097656631