A calculation method to estimate single event upset cross section

Frédéric Wrobel 1, 2 Antoine Touboul 1, 2 Vincent Pouget 1, 2 Luigi Dilillo 3 Jérôme Boch 1, 2 Frédéric Saigné 1, 2
2 RADIAC - Radiations et composants
IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
3 TEST - TEST
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Document type :
Journal articles
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01636059
Contributor : Dauverchain Eric <>
Submitted on : Thursday, November 16, 2017 - 10:09:48 AM
Last modification on : Thursday, July 25, 2019 - 4:24:07 PM

Identifiers

Citation

Frédéric Wrobel, Antoine Touboul, Vincent Pouget, Luigi Dilillo, Jérôme Boch, et al.. A calculation method to estimate single event upset cross section. Microelectronics Reliability, Elsevier, 2017, 76-77, pp.644-649. ⟨10.1016/j.microrel.2017.07.056⟩. ⟨hal-01636059⟩

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