Pulsed-Laser Testing for Single-Event Effects Investigations

S. Buchner; F. Miller; V. Pouget; D. P. Mcmorrow

doi:10.1109/TNS.2013.2255312

Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2013

Pulsed-Laser Testing for Single-Event Effects Investigations

(1) , (2) , (3, 4) , (2)

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4

S. Buchner

Fonction : Auteur

QSS

F. Miller

Fonction : Auteur

Naval Research Laboratory

V. Pouget

Fonction : Auteur
PersonId : 21573
IdHAL : vincent-pouget
ORCID : 0000-0001-6126-6708
IdRef : 060649313

Institut d’Electronique et des Systèmes

Radiations et composants

D. P. Mcmorrow

Fonction : Auteur

Naval Research Laboratory

Domaines

Electronique

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https://hal.science/hal-01633917

Soumis le : lundi 13 novembre 2017-15:20:57

Dernière modification le : mardi 23 janvier 2024-12:28:53

Dates et versions

hal-01633917 , version 1 (13-11-2017)

Identifiants

HAL Id : hal-01633917 , version 1
DOI : 10.1109/TNS.2013.2255312

Citer

S. Buchner, F. Miller, V. Pouget, D. P. Mcmorrow. Pulsed-Laser Testing for Single-Event Effects Investigations. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2013, 60 (3), pp.1852 - 1875. ⟨10.1109/TNS.2013.2255312⟩. ⟨hal-01633917⟩

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