V. Petit, J. L. Doualan, P. Camy, V. Ménard, and R. Moncorgé, Appl. Phys. B, vol.78, p.681, 2004.

M. Siebold, S. Bock, U. Schramm, B. Xu, J. L. Doualan et al., Appl. Phys. B, vol.97, p.327, 2009.

A. Lucca, M. Jacquemet, F. Druon, F. Balembois, P. Georges et al., Opt. Lett, vol.29, p.1879, 2004.

A. Lucca, G. Debourg, M. Jacquemet, F. Druon, F. Balembois et al., Opt. Lett, vol.29, p.2767, 2004.

P. Sévillano, G. Machinet, R. Dubrasquet, P. Camy, J. Doualan et al., Advanced Solid State Lasers, OSA Technical Digest, 2013.

M. Siebold, M. Hornung, R. Bödefeld, S. Podleska, S. Klingebiel et al., Opt. Lett, vol.33, p.2770, 2008.

A. Kessler, M. Hornung, S. Keppler, F. Schorcht, M. Hellwing et al., Opt. Lett, vol.39, p.1333, 2014.

S. Ricaud, D. N. Papadopoulos, A. Pellegrina, F. Balembois, P. George et al., Opt. Lett, vol.36, p.1602, 2011.

M. Ito, C. Goutaudier, Y. Guyot, K. Lebbou, T. Fukuda et al., J. Phys.: Condens. Matter, vol.16, p.1501, 2004.

V. Petit, P. Camy, J. L. Doualan, X. Portier, and R. Moncorgé, Phys. Rev. B, vol.78, p.85131, 2008.

V. A. Chernyshev, A. E. Nikiforov, V. P. Volodin, and G. S. Slepukhin, Phys. Solid State, vol.52, p.1874, 2010.

T. Kallel, M. A. Hassairi, M. Dammak, A. Lyberis, P. Gredin et al., J. Alloys Compd, vol.584, p.261, 2014.

J. Corish, C. R. Catlow, P. W. Jacobs, and S. H. Ong, Phys. Rev. B, vol.25, p.6425, 1982.

P. J. Bendall, C. R. Catlow, J. Corish, and P. W. Jacobs, J. Solid State Chem, vol.51, p.159, 1984.

R. Moncorgé, P. Camy, J. L. Doualan, A. Braud, J. Margerie et al., J. Lumin, vol.133, p.276, 2013.

S. Van-aert, J. Verbeeck, R. Erni, S. Bals, M. Luysberg et al., Ultramicroscopy, vol.109, p.1236, 2009.

A. Rosenauer, T. Mehrtens, K. Müller, K. Gries, M. Schowalter et al., Ultramicroscopy, vol.111, p.1316, 2011.

D. E. Jesson, S. J. Pennycook, and S. M. Baribeau, Phys. Rev. Lett, vol.66, p.750, 1991.

K. Van-benthem, A. R. Lupini, M. Kim, H. Suck, S. Baik et al., Appl. Phys. Lett, vol.87, p.34104, 2005.

P. Vermaut, P. Ruterana, G. Nouet, and H. Morkoç, Inst. Phys. Conf. Ser, vol.146, p.289, 1995.

P. Ruterana and G. Nouet, Phys. Status Solidi B, vol.227, p.177, 2001.

P. Vermaut, G. Nouet, and P. Ruterana, Appl. Phys. Lett, vol.74, p.694, 1999.

V. Potin, P. Ruterana, and G. Nouet, J. Phys.: Condens. Matter, vol.12, p.10301, 2000.

T. Braisaz, P. Ruterana, G. Nouet, and R. C. Pond, Philos. Mag. A, vol.75, p.1075, 1997.

V. Potin, G. Nouet, and P. Ruterana, Appl. Phys. Lett, vol.74, p.947, 1999.

V. Potin, P. Ruterana, G. Nouet, R. C. Pond, and H. Morkoç, Phys. Rev. B, vol.61, p.5587, 2000.

I. Ho and G. B. Stringfellow, Appl. Phys. Lett, vol.69, p.2701, 1996.

P. Ruterana, G. Nouet, W. Van-der-stricht, I. Moerman, and L. Considine, Appl. Phys. Lett, vol.72, p.1742, 1998.

P. M. Voyles, D. A. Muller, J. L. Grazul, P. H. Citrin, and H. L. Gossmann, Nature, vol.416, p.826, 2002.

P. M. Voyles, J. L. Grazul, and D. A. Muller, Ultramicroscopy, vol.96, p.251, 2003.

H. Okuno, J. L. Rouvì-ere, P. Jouneau, P. Bayle-guillemaud, and B. Daudin, Appl. Phys. Lett, vol.96, p.251908, 2010.

M. Couillard, G. Radtke, A. P. Knights, and G. A. Botton, Phys. Rev. Lett, vol.107, p.186104, 2011.

, for more details about the validity of the SVD method and the electron channeling effects

C. A. Koch, , 2002.

J. L. Doualan, C. Labbé, P. L. Boulanger, J. Margerie, R. Moncorgé et al., J. Phys.: Condens. Matter, vol.7, p.5111, 1995.

S. A. Kazanskii, A. I. Ryskin, A. E. Nikiforov, A. Yu, M. Zaharov et al., Phys. Rev. B, vol.72, p.14127, 2005.

B. R. Judd, Proc. R. Soc. London, Ser. A, vol.241, p.414, 1957.

J. M. Baker and W. B. Blake, Proc. R. Soc. London, Ser. A, vol.316, p.63, 1970.

S. E. Ness, D. J. Bevan, and H. J. , Eur. J. Solid State Inorg. Chem, vol.25, p.509, 1988.

D. J. Bevan, M. J. Mccall, S. E. Ness, and M. R. Taylor, Eur. J. Solid State Inorg. Chem, vol.25, p.517, 1988.

S. A. Fitzgerald, A. J. Sievers, and J. A. Campbell, J. Phys.: Condens. Matter, vol.13, p.2177, 2001.

P. A. Popov, P. P. Fedorov, S. V. Kuznetsov, V. A. Konyushkin, V. V. Osiko et al., Dokl. Phys, vol.53, p.198, 2008.