H. Ohno, Science, vol.281, p.951, 1998.

J. K. Furdyna, J. Appl. Phys, vol.64, p.29, 1988.

S. B. Ogale, Adv. Mater, vol.22, p.3125, 2010.

T. , Physica E, vol.35, p.293, 2006.

T. , J. Appl. Phys, vol.103, pp.7-111, 2008.

N. Samarth, S. Chun, K. Ku, S. Potashnik, and P. Schiffer, Solid State Commun, vol.127, p.173, 2003.

P. N. Hai, M. Yokoyama, S. Ohya, and M. Tanaka, Physica E, vol.32, p.416, 2006.

Y. D. Park, A. T. Hanbicki, S. C. Erwin, C. S. Hellberg, J. M. Sullivan et al.,

T. F. Mattson, A. Ambrose, G. Wilson, B. T. Spanos, and . Jonker, Science, vol.295, p.651, 2002.

S. Ahlers, D. Bougeard, N. Sircar, G. Abstreiter, A. Trampert et al., Phys. Rev. B, vol.74, p.214411, 2006.

D. Bougeard, S. Ahlers, A. Trampert, N. Sircar, and G. Abstreiter, Phys. Rev. Lett, vol.97, p.237202, 2006.

T. Devillers, M. Jamet, A. Barski, V. Poydenot, P. Bayle-guillemaud et al., Phys. Rev. B, vol.76, p.205306, 2007.

S. Tardif, I. Yu, T. Devillers, M. Jamet, S. Cherifi et al., Spintronics, vol.7036, p.703615, 2008.

. Mouton, J. Appl. Phys, vol.112, p.113918, 2012.

, to 193.52.161.97. Redistribution subject to AIP license or copyright, 2012.

D. Bougeard, N. Sircar, S. Ahlers, V. Lang, G. Abstreiter et al., Nano Lett, vol.9, p.3743, 2009.

R. Reiley, D. Perea, L. He, F. Tsui, and L. Lauhon, J. Phys. Chem, vol.116, p.276, 2012.

Y. Wang, F. Xiu, J. Zou, K. L. Wang, and A. P. Jacob, Appl. Phys. Lett, vol.96, p.51905, 2010.

Y. Wang, F. Xiu, Y. Wang, J. Zou, W. Beyermann et al., Nanoscale Res. Lett, vol.6, p.134, 2011.

A. Jain, M. Jamet, A. Barski, T. Devillers, C. Porret et al., Appl. Phys. Lett, vol.97, p.202502, 2010.

D. Blavette, T. Kassab, E. Cadel, A. Mackel, F. Vurpillot et al., Int. J. Mater. Res, vol.99, p.454, 2008.

M. K. Miller and R. G. Forbes, Mater. Charact, vol.60, p.461, 2009.

M. Kodzuka, T. Ohkubo, K. Hono, F. Matsukura, and H. Ohno, Ultramicroscopy, vol.109, p.644, 2009.

D. J. Payne and E. A. Marquis, Chem. Mater, vol.23, p.1085, 2011.

R. Lard-e, E. Talbot, P. Pareige, H. Bieber, G. Schmerber et al., J. Am. Chem. Soc, vol.133, p.1451, 2011.

R. Lard-e, E. Talbot, F. Vurpillot, P. Pareige, G. Schmerber et al., J. Appl. Phys, vol.105, p.126107, 2009.

L. Li, Y. Guo, X. Y. Cui, R. Zheng, K. Ohtani et al., Phys. Rev. B, vol.85, p.174430, 2012.

K. Thompson, D. Lawrence, D. J. Larson, J. D. Olson, T. F. Kelly et al., Ultramicroscopy, vol.107, p.131, 2007.

I. Yu, M. Jamet, T. Devillers, A. Barski, P. Bayle-guillemaud et al., Phys. Rev. B, vol.82, p.35308, 2010.

F. Vurpillot, A. Bostel, and D. Blavette, Appl. Phys. Lett, vol.76, p.3127, 2000.

D. Blavette, F. Vurpillot, P. Pareige, and A. Menand, Ultramicroscopy, vol.89, p.145, 2001.

E. Talbot, R. Lard-e, F. Gourbilleau, C. Dufour, and P. Pareige, Eur. Phys. Lett, vol.87, p.26004, 2009.

J. W. Schmelzer, J. Schmelzer, and I. Gutzow, J. Chem. Phys, vol.112, p.3820, 2000.

T. Philippe and D. Blavette, Philos. Mag, vol.91, p.4606, 2011.

K. Sato, T. Fukushima, and H. Katayama-yoshida, J. Phys.: Condens. Matter, vol.19, p.365212, 2007.

T. Fukushima, K. Sato, H. Katayama-yoshida, and P. H. Dederichs, Jpn. J. Appl. Phys., Part, vol.2, p.416, 2006.