Analyse Temporelle des Circuits VLSI à Haute Densité d'Intégration Utilisant des Technologies Submicroniques

Karim Dioury 1 Alain Greiner 1 Marie-Minerve Rosset-Louërat 1
1 ASIM - Architecture des Systèmes intégrés et Micro électronique
LIP6 - Laboratoire d'Informatique de Paris 6
Document type :
Conference papers
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01627841
Contributor : Lip6 Publications <>
Submitted on : Thursday, November 2, 2017 - 2:37:55 PM
Last modification on : Thursday, March 21, 2019 - 12:59:51 PM

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  • HAL Id : hal-01627841, version 1

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CNRS | LIP6 | UPMC | SORBONNE-UNIVERSITE | SU-SCIENCES

Citation

Karim Dioury, Alain Greiner, Marie-Minerve Rosset-Louërat. Analyse Temporelle des Circuits VLSI à Haute Densité d'Intégration Utilisant des Technologies Submicroniques. 1er Colloque CAO de Circuits Intégrés et Systèmes, Jan 1997, Grenoble, France. pp.184-187. ⟨hal-01627841⟩

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