Fast myopic 2D-SIM Super Resolution Microscopy with Joint Modulation Pattern Estimation

François Orieux; Vincent Loriette; Jean-Christophe Olivo-Marin; Eduardo Sepulveda; Alexandra Fragola

doi:10.1088/1361-6420/aa8f5b

Fast myopic 2D-SIM Super Resolution Microscopy with Joint Modulation Pattern Estimation

François Orieux ¹ Vincent Loriette ² Jean-Christophe Olivo-Marin ³ Eduardo Sepulveda ² Alexandra Fragola ²

1 L2S - Laboratoire des signaux et systèmes

2 LPEM - Laboratoire de Physique et d'Etude des Matériaux

3 AIQ - Analyse d'Images Quantitative

Type de document :

Article dans une revue

Inverse Problems, IOP Publishing, 2017, 33 (12), pp.125005. 〈10.1088/1361-6420/aa8f5b〉

Domaine :

Informatique [cs] / Traitement des images

Informatique [cs] / Traitement du signal et de l'image

Sciences de l'ingénieur [physics] / Traitement du signal et de l'image

Statistiques [stat] / Applications [stat.AP]

Liste complète des métadonnées

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01623761
Contributeur : François Orieux <>
Soumis le : mercredi 25 octobre 2017 - 16:03:51
Dernière modification le : mercredi 5 décembre 2018 - 01:26:12

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