Nonlinear properties of Ge-rich SiGe waveguides

Abstract : We report the first third order nonlinear characterization of Ge-rich Si 1-x Ge x waveguides, with Germanium concentrations ranging from 0.7 to 0.9. A bi-directional top hat D-Scan method was used to determine the waveguide nonlinear parameters and to deduce the Kerr nonlinear refractive index and the two-photon absorption coefficient at the wavelength of 1.58 µm.
Type de document :
Communication dans un congrès
2017 CLEO Pacific Rim Conference , Jul 2017, Singapour, Singapore
Liste complète des métadonnées

Littérature citée [3 références]  Voir  Masquer  Télécharger

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01617233
Contributeur : Delphine Marris-Morini <>
Soumis le : lundi 16 octobre 2017 - 14:04:13
Dernière modification le : jeudi 19 octobre 2017 - 01:11:22

Fichier

PGC_CLEO-PR_2017_Contribution_...
Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01617233, version 1

Citation

Samuel Serna, Vladyslav Vakarin, Joan Manel Ramírez, Jacopo Frigerio, Andrea Ballabio, et al.. Nonlinear properties of Ge-rich SiGe waveguides. 2017 CLEO Pacific Rim Conference , Jul 2017, Singapour, Singapore. 〈hal-01617233〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

50

Téléchargements de fichiers

16