Méthode de σ-clipping par point fixe pour l'estimation de la distribution sous H0 dans le cadre de tests multiples

Céline Meillier 1 Raphael Bacher 2, 3 Florent Chatelain 4 Olivier Michel 3
1 MIV - Modèles Images Vision
ICube - Laboratoire des sciences de l'ingénieur, de l'informatique et de l'imagerie
3 GIPSA-CICS - CICS
GIPSA-DIS - Département Images et Signal
4 GIPSA-SAIGA - SAIGA
GIPSA-DA - Département Automatique, GIPSA-DIS - Département Images et Signal
Résumé : – Dans le cadre des procédures de type tests multiples (imagerie médicale, astronomie, données génétiques, etc), il est nécessaire de modéliser l'hypothèse nulle H0 qui représente le cas où "le phénomène d'intérêt est absent", i.e. il n'y a que du bruit. De nombreux travaux [3, 4, 5] ont mis en évidence le fait que, même sous H0, les données traitées ne sont pas exactement distribuées selon le modèle théorique utilisé. Il s'avère alors nécessaire d'estimer la distribution sous H0 à partir des données elles-même afin de corriger le modèle et d'obtenir des procédures de test plus fiables et plus puissantes. Une telle estimation doit être robuste face à la présence potentielle du phénomène/signal d'intérêt (hypothèse alternative H1) parmi les multiples observations. Nous proposons dans ce papier une nouvelle méthode d'estimation des paramètres de moyenne et de variance sous l'hypothèse nulle H0. Nous montrons une comparaison des performances par rapport à des méthodes issues de la littérature dans le cas de champs aléatoires gaussiens dont la moyenne et la variance sont a priori inconnues.
Type de document :
Communication dans un congrès
XXVIème colloque GRETSI (GRETSI 2017), Sep 2017, Juan les Pins, France
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Contributeur : Céline Meillier <>
Soumis le : mardi 18 juillet 2017 - 13:41:42
Dernière modification le : mardi 29 mai 2018 - 12:50:23
Document(s) archivé(s) le : samedi 27 janvier 2018 - 07:16:03

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Céline Meillier, Raphael Bacher, Florent Chatelain, Olivier Michel. Méthode de σ-clipping par point fixe pour l'estimation de la distribution sous H0 dans le cadre de tests multiples. XXVIème colloque GRETSI (GRETSI 2017), Sep 2017, Juan les Pins, France. 〈hal-01563994〉

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