Cross-plan Si/SiGe superlattice acoustic and thermal properties measurement by picosecond ultrasonics
Résumé
no abstract
Article Dans Une Revue
Journal of Applied Physics
Année : 2007
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https://hal.science/hal-01553054
Soumis le : lundi 3 juillet 2017-13:39:43
Dernière modification le : mercredi 12 juillet 2023-15:23:41
Citer
Y. Ezzahri, S. Grauby, S. Dilhaire, Jean-Michel Rampnoux, W. Claeys. Cross-plan Si/SiGe superlattice acoustic and thermal properties measurement by picosecond ultrasonics. Journal of Applied Physics, 2007, 101 (1), pp.7. ⟨10.1063/1.2403236⟩. ⟨hal-01553054⟩
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