Measurement of thermally induced vibrations of microelectronic devices by use of a heterodyne electronic speckle pattern interferometry imaging technique
Résumé
no abstract
Article Dans Une Revue
Applied optics
Année : 2003
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https://hal.science/hal-01550902
Soumis le : jeudi 29 juin 2017-18:06:33
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Citer
Stéphane Grauby, S. Dilhaire, S. Jorez, L. D. P. Lopez, Jean-Michel Rampnoux, et al.. Measurement of thermally induced vibrations of microelectronic devices by use of a heterodyne electronic speckle pattern interferometry imaging technique. Applied optics, 2003, 42 (10), pp.1763-1768. ⟨10.1364/ao.42.001763⟩. ⟨hal-01550902⟩
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