Static and dynamic profile of the electric field within the bulk of fused silica glass during and after thermal poling - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Optics Letters Année : 2003

Static and dynamic profile of the electric field within the bulk of fused silica glass during and after thermal poling

H. Guillet De Chatellus
  • Fonction : Auteur
E. Freysz
Centre de physique moléculaire optique et hertzienne

Résumé

no abstract

Domaines

Physique [physics]

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https://hal.science/hal-01550879

Soumis le : jeudi 29 juin 2017-18:06:09

Dernière modification le : mercredi 13 mars 2024-18:24:17

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Dates et versions

hal-01550879 , version 1 (29-06-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01550879 , version 1

Citer

H. Guillet De Chatellus, E. Freysz. Static and dynamic profile of the electric field within the bulk of fused silica glass during and after thermal poling. Optics Letters, 2003, 28 (18), pp.1624-6. ⟨hal-01550879⟩

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