High-resolution-scanning waveguide microscopy: spatial refractive index and topography quantification

Abstract : We report on a high-resolution metal-clad waveguide scanning microscopic method with a diffraction-limited resolution. This microscope can be operated in both TM and TE waveguide modes with radially and azimuthally polarized beams, respectively, and allows both refractive index and topography of dielectric objects to be evaluated at high resolution and sensitivity. We emphasize the performance of this microscopic method from calibrated 3D polymer microstructures with rectangular, disk, and ring shapes.
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Optics Letters, Optical Society of America, 2017, 42 (13), pp.2523 - 2526. 〈10.1364/OL.42.002523〉
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Contributeur : Bernadette Bergeret <>
Soumis le : mardi 27 juin 2017 - 16:52:34
Dernière modification le : samedi 10 mars 2018 - 01:15:45
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L. Berguiga, R. Orobtchouk, J. Elezgaray, Alain Arneodo, Françoise Argoul. High-resolution-scanning waveguide microscopy: spatial refractive index and topography quantification. Optics Letters, Optical Society of America, 2017, 42 (13), pp.2523 - 2526. 〈10.1364/OL.42.002523〉. 〈hal-01548509〉

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