X-ray strain analysis in thin films enhanced by 2D detection

G. Geandier (1) , D. Faurie (2) , P. Renault (3) , Christophe Le Bourlot (2) , P. Djemia (2) , O. Castelnau (4) , S.M. Chérif , E. Le Bourhis (1) , P. Goudeau (1)

1 PPrime [Poitiers] - Institut Pprime [UPR 3346]
2 LSPM - Laboratoire des Sciences des Procédés et des Matériaux
3 EMMAH - Environnement Méditerranéen et Modélisation des Agro-Hydrosystèmes
4 PIMM - Laboratoire Procédés et Ingénierie en Mécanique et Matériaux

Domaines: Mécanique des matériaux [physics.class-ph]

G. Geandier, D. Faurie, P. Renault, Christophe Le Bourlot, P. Djemia, et al.. X-ray strain analysis in thin films enhanced by 2D detection. EPJ Web of Conferences, 2010, 6, ⟨10.1051/epjconf/20100626008⟩. ⟨hal-01537638⟩