Physical Properties Investigation of Arsenic Based III-V Materials Grown on Nanopatterned Si(100) Substrates

R. Cipro (1) , M. Martin (2) , J. Moeyaert (3) , F. Bassani (1) , V. Gorbenko , S. David (4) , E. Latu-Romain (1) , J. Barnes , Y. Bogumilowicz , N. Rochas , V. Loup (1) , C. Vizioz , K. Yckache (5) , Nicolas Chauvin (6) , X. Bao , Z. Ye , D. Carlson (7) , J. Pin , E. Sanchez , T. Baron (1)

1 LTM - Laboratoire des technologies de la microélectronique
2 AMU EU3M - Aix-Marseille Université - École universitaire de maïeutique Marseille Méditerranée
3 CSNSM SEMI
4 IPNO - Institut de Physique Nucléaire d'Orsay
5 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
6 INL - S&N - INL - Spectroscopies et Nanomatériaux
7 Geophysical Institute and Department of Chemistry

no abstract

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]; Optique / photonique; Matériaux; Micro et nanotechnologies/Microélectronique

R. Cipro, M. Martin, J. Moeyaert, F. Bassani, V. Gorbenko, et al.. Physical Properties Investigation of Arsenic Based III-V Materials Grown on Nanopatterned Si(100) Substrates. 2015 MRS Spring Meeting & Exhibit, 2015, San Francisco, California, United States. ⟨hal-01489575⟩