Electromechanical response of amorphous LaAlO3 thin film probed by scanning probe microscopies

Alexis Borowiak (1) , H. Tanaka , Nicolas Baboux (1) , David Albertini (2) , Bertrand Vilquin (3) , Guillaume Saint-Girons (3) , Brice Gautier (1)

1 INL - DE - INL - Dispositifs Electroniques
2 LPM - Laboratoire de physique de la matière
3 INL - H&N - INL - Hétéroepitaxie et Nanostructures

no abstract

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]; Optique / photonique; Matériaux; Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Alexis Borowiak, H. Tanaka, Nicolas Baboux, David Albertini, Bertrand Vilquin, et al.. Electromechanical response of amorphous LaAlO3 thin film probed by scanning probe microscopies. ISAF 2015 conference, 2015, Singapour, Singapore. ⟨hal-01489365⟩