Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Electron Devices
Année : 2017
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01477147
Soumis le : lundi 27 février 2017-09:29:29
Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27
Citer
Suresh Balanethiram, Rosario d'Esposito, Anjan Chakravorty, Sebastien Fregonese, Thomas Zimmer. Extraction of BEOL Contributions for Thermal Resistance in SiGe HBTs. IEEE Transactions on Electron Devices, 2017, pp.1 - 5. ⟨10.1109/TED.2016.2645615⟩. ⟨hal-01477147⟩
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