A Combined SThM/SEM Instrument For The Investigation Of Influent Parameters In Nano-scale Thermal Contact - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

A Combined SThM/SEM Instrument For The Investigation Of Influent Parameters In Nano-scale Thermal Contact

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01464803 , version 1 (10-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01464803 , version 1

Citer

D. Renahy, A. Assy, S. Gomès. A Combined SThM/SEM Instrument For The Investigation Of Influent Parameters In Nano-scale Thermal Contact. International Workshop on THERMAL INVESTIGATIONS of ICs and Systems, Sep 2015, Paris, France. ⟨hal-01464803⟩
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