Quantitative analysis of nanoripple and nanoparticle patterns by grazing incidence small-angle x-ray scattering 3D mapping - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015) Année : 2004

Quantitative analysis of nanoripple and nanoparticle patterns by grazing incidence small-angle x-ray scattering 3D mapping

C. Revenant
  • Fonction : Auteur
F. Leroy
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
CV
R. Lazzari
Oxydes en basses dimensions
G. Renaud
  • Fonction : Auteur
C. Henry
  • Fonction : Auteur

Domaines

Chimie-Physique [physics.chem-ph] Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Electromagnétisme Optique / photonique

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https://hal.science/hal-01442869

Soumis le : samedi 21 janvier 2017-14:47:56

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Dates et versions

hal-01442869 , version 1 (21-01-2017)

Identifiants

Citer

C. Revenant, F. Leroy, R. Lazzari, G. Renaud, C. Henry. Quantitative analysis of nanoripple and nanoparticle patterns by grazing incidence small-angle x-ray scattering 3D mapping. Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), 2004, 85 (23), ⟨10.1103/PhysRevB.85.235415⟩. ⟨hal-01442869⟩

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