Gaussian Time Error: a fault detection index for semiconductor processes
Résumé
no abstract
Communication Dans Un Congrès
Année : 2016
William Domingues Vinhas : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01423764
Soumis le : samedi 31 décembre 2016-14:02:15
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01423764 , version 1
Citer
Julien Marino, Francesco Rossi, Mustapha Ouladsine, Jacques Pinaton. Gaussian Time Error: a fault detection index for semiconductor processes. American Control Conference 2016, 2016, Unknown, Unknown Region. ⟨hal-01423764⟩
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