Estimation des métriques de test analogique à base d’un échantillon multivarié de circuits extrêmes

Ahcène Bounceur; R. Euler; K. Beznia; Salvador Mir

Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Estimation des métriques de test analogique à base d’un échantillon multivarié de circuits extrêmes

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Ahcène Bounceur

Fonction : Auteur
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IdHAL : ahcene-bounceur
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IdRef : 117817007

Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

CV

R. Euler

Fonction : Auteur
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IdRef : 22361663X

Université de Brest

K. Beznia

Fonction : Auteur

Université de Brest

Salvador Mir

Fonction : Auteur
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IdHAL : salvador-mir
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IdRef : 068749287

Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lucie Torella : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01400007

Soumis le : lundi 21 novembre 2016-12:05:29

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-18:25:18

Dates et versions

hal-01400007 , version 1 (21-11-2016)

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Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

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Citer

Ahcène Bounceur, R. Euler, K. Beznia, Salvador Mir. Estimation des métriques de test analogique à base d’un échantillon multivarié de circuits extrêmes. Journées GDR SoC-SiP, Jun 2013, Lyon, France. ⟨hal-01400007⟩

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