Low-Frequency Noise in Advanced SiGe:C HBTs—Part II: Correlation and Modeling

Chhandak Mukherjee; Thomas Jacquet; Anjan Chakravorty; Thomas Zimmer; Josef Bock; Klaus Aufinger; Cristell Maneux

doi:10.1109/TED.2016.2588318

Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Electron Devices Année : 2016

Low-Frequency Noise in Advanced SiGe:C HBTs—Part II: Correlation and Modeling

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Chhandak Mukherjee

Fonction : Auteur
PersonId : 182095
IdHAL : chhandak-mukherjee
ORCID : 0000-0002-8206-2779
IdRef : 228231779

Thomas Jacquet

Fonction : Auteur

Anjan Chakravorty

Fonction : Auteur

Thomas Zimmer

Fonction : Auteur

Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Josef Bock

Fonction : Auteur

Klaus Aufinger

Fonction : Auteur

Cristell Maneux

Fonction : Auteur
PersonId : 15639
IdHAL : cristell-maneux
ORCID : 0000-0001-9125-5372
IdRef : 135213584

Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01399852

Soumis le : lundi 21 novembre 2016-09:41:05

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Dates et versions

hal-01399852 , version 1 (21-11-2016)

Identifiants

HAL Id : hal-01399852 , version 1
DOI : 10.1109/TED.2016.2588318

Citer

Chhandak Mukherjee, Thomas Jacquet, Anjan Chakravorty, Thomas Zimmer, Josef Bock, et al.. Low-Frequency Noise in Advanced SiGe:C HBTs—Part II: Correlation and Modeling. IEEE Transactions on Electron Devices, 2016, 63 (9), pp.3657 - 3662. ⟨10.1109/TED.2016.2588318⟩. ⟨hal-01399852⟩

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